Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Εργαστήριο Ηλεκτρονικής

Μπορείτε να πλοηγηθείτε στις συλλογές/υπο-κοινότητες της κοινότητας ή μπορείτε να χρησιμοποιήσετε την υπηρεσία αναζήτησης

Συλλογές

Τελευταίες Υποβολές

 1-15 από 66 αποτελέσματα
1 Παναγιώτης Τάκας, "Φασματική ταξινόμηση και χαρτογράφηση πραγματικού χρόνου για την επιτόπια ανίχνευση παθολογιών των φυτών", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20232023-05-19
2 Ιωάννα-Ανδρομάχη Στασινού, "Εξαγωγή και ποσοτικοποίηση μορφολογικών και φασματικών χαρακτηριστικών για τη βελτίωση της διαγνωστικής ακρίβειας των δερματικών παθολογιών", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20222023-01-18
3 Christos Tsiaousis, "A novel multi modal high throughput screening and material identification imaging system", Diploma Work, School of Electrical and Computer Engineering (ECE), Technical University of Crete, Chania, Greece, 20222022-07-26
4 Μηνάς-Διωμφέας Καλωσυνάκης, "Κατανεμημένο σύστημα ανίχνευσης εισβολών δικτύου σε πραγματικό χρόνο στo Apache Spark", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20212021-10-11
5 C. Kalogerakis, E. Koutroulis, and M. G. Lagoudakis, “Global MPPT based on machine-learning for PV arrays operating under partial shading conditions,” Appl. Sci., vol. 10, no. 2, Jan. 2020. doi: 10.3390/app100207002021-09-27
6 Εμμανουήλ Γιαλιτάκης, "Τεχνολογίες φασματικής απεικόνισης και μηχανικής μάθησης για την αυτοματοποίηση της διαγνωστικής μικροσκοπίας", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20212021-08-23
7 Λουκάς Χέβας, "Χαρακτηρισμός και συμπαγής μοντελοποίηση θορύβου χαμηλής συχνότητας και φαινομένων ιοντίζουσας ακτινοβολίας σε MOSFET με βάση το πυρίτιο", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20212021-07-28
8 Μάριος Μαυράκης, "Ανάπτυξη συστήματος στερεοσκοπικής απεικόνισης στην ενδοσκόπηση", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20202021-07-14
9 Αλεξία Παπαδοπούλου, "Σχεδίαση ενισχυτών διαγωγιμότητας χαμηλής κατανάλωσης για υψηλά επίπεδα ιονίζουσας ακτινοβολίας και θέματα υλοποίησης εξειδικευμένου 65nm CMOS τεχνολογίας Κιτ σχεδίασης", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20212021-07-06
10 Αντώνιος Αντωνακάκης, "Αναλυτική μέθοδος προσδιορισμού παραμέτρων και εφαρμογή σε προχωρημένη τεχνολογία CMOS", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20212021-05-17
11 N. Makris, M. Bucher, L. Chevas, F. Jazaeri and J.-M. Sallese, “Free carrier mobility, series resistance, and threshold voltage extraction in junction FETs,” IEEE Trans. Electron Devices, vol. 67, no. 11, pp. 4658–4661, Nov. 2020. doi: 10.1109/TED.2020.30258412021-04-09
12 M. Bucher, N. Makris and L. Chevas, “Generalized constant current method for determining MOSFET threshold voltage”, IEEE Trans. Electron Devices, vol. 67, no. 11, pp. 4559–4562, Nov. 2020. doi: 10.1109/TED.2020.30190192021-04-08
13 Χρήστος Χούσος, "Ανάπτυξη και ενσωμάτωση συστημάτων μεκατρονικής σε ιατρο-βιολογικό μικροσκόπιο", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20212021-02-26
14 N. Makris, M. Bucher, F. Jazaeri and J.-M. Sallese, "CJM: a compact model for double-gate junction FETs," IEEE J. Electron Devices Soc., vol. 7, pp. 1191-1199, Oct. 2019. doi: 10.1109/JEDS.2019.29448172020-10-29
15 N. Makris, K. Zekentes and M. Bucher, “Compact modeling of SiC and GaN junction FETs at high temperature,” Mater. Sci. Forum, vol. 963, pp. 683–687, Jul. 2019. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.963.6832020-10-27
Pages: 1 |2 |3 |4 |5 |
 

Copyright © DIAS 2013