Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN
|
EL
| URI: | http://purl.tuc.gr/dl/dias/6B13CB71-9A36-43BB-B3EA-0B4FD498CA83 | ||
| Έτος | 2010 | ||
| Τύπος | Μεταπτυχιακή Διατριβή | ||
| Άδεια Χρήσης |
|
||
| Βιβλιογραφική Αναφορά | Νικόλαος Μαυρεδάκης, "Χαρακτηρισμός θορύβου χαμηλών συχνοτήτων σε σύγχρονες CMOS τεχνολογίες", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2010. https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.13295 | ||
| Εμφανίζεται στις Συλλογές |
Κεφ. 1: Εισαγωγή -- Κεφ. 2: Θόρυβος στα MOSFETs -- Κεφ. 3: Χαρακτηρισμός 1/F θορύβου - μοντελοποίηση με το EKV3 -- Κεφ. 4: Αποτελέσματα ανάλυσης 1/F θορύβου ως προς την πόλωση - εξαγωγή παραμέτρων
Copyright © DIAS 2013
