Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN
|
EL
| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/BE7DEB09-9F56-4BC9-BC4D-A851F5EEC6B9 | - |
| Αναγνωριστικό | http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0029554X76902561 | - |
| Αναγνωριστικό | https://doi.org/10.1016/0029-554X(76)90256-1 | - |
| Γλώσσα | en | - |
| Μέγεθος | 6 pages | en |
| Τίτλος | An external beam technique for proton-induced X-ray emission analysis | en |
| Δημιουργός | Katsanos Anastasios | en |
| Δημιουργός | Κατσανος Αναστασιος | el |
| Δημιουργός | Xenoulis Alexander C. | en |
| Δημιουργός | Hadjiantoniou A. | en |
| Δημιουργός | Fink Richard W. | en |
| Εκδότης | Elsevier | en |
| Περίληψη | A method for proton irradiation of targets in free air is described. A 7.6 μm beryllium foil used as a proton exit window causes negligible energy loss for as low as 2 MeV protons and can withstand relatively high currents for extended periods of time without vacuum problems. Proton-induced X-rays from thin and thick samples are detected using Si(Li) and intrinsic Ge detectors A detailed comparison of X-ray spectra obtained both with external and internal bombardment, for a variety of samples, is presented and these results clearly demonstrate the superior performance of the external beam technique for elemental micro-analysis. | en |
| Τύπος | Peer-Reviewed Journal Publication | en |
| Τύπος | Δημοσίευση σε Περιοδικό με Κριτές | el |
| Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Ημερομηνία | 2015-12-02 | - |
| Ημερομηνία Δημοσίευσης | 1976 | - |
| Θεματική Κατηγορία | X-ray emission analysis | en |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | A. Katsanos, A. Xenoulis, A. Hadjiantoniou and R. W. Fink, "An external beam technique for proton-induced X-ray emission analysis", Nucl. Instrum. Meth., vol. 137, no. 1, pp. 119-124, Aug. 1976. doi: 10.1016/0029-554X(76)90256-1 | en |
Copyright © DIAS 2013
