Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN
|
EL
| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/6478F07C-E230-450A-A4CB-CC70418BFB21 | - |
| Αναγνωριστικό | https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.77171 | - |
| Γλώσσα | en | - |
| Μέγεθος | 124 pages | en |
| Τίτλος | Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology | en |
| Τίτλος | Χαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS | el |
| Δημιουργός | Nikolaou Aristeidis | en |
| Δημιουργός | Νικολαου Αριστειδης | el |
| Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής] | Bucher Matthias | en |
| Συντελεστής [Επιβλέπων Καθηγητής] | Bucher Matthias | el |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Balas Costas | en |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Μπαλας Κωστας | el |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Kalaitzakis Konstantinos | en |
| Συντελεστής [Μέλος Εξεταστικής Επιτροπής] | Καλαϊτζακης Κωνσταντινος | el |
| Εκδότης | Πολυτεχνείο Κρήτης | el |
| Εκδότης | Technical University of Crete | en |
| Ακαδημαϊκή Μονάδα | Technical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineering | en |
| Ακαδημαϊκή Μονάδα | Πολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών | el |
| Τύπος | Μεταπτυχιακή Διατριβή | el |
| Τύπος | Master Thesis | en |
| Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Ημερομηνία | 2018-06-29 | - |
| Ημερομηνία Δημοσίευσης | 2018 | - |
| Θεματική Κατηγορία | High TID effects on CMOS | el |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | Aristeidis Nikolaou, "Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology", Master Thesis, School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2018 | en |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | Αριστείδης Νικολάου, "Χαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2018 | el |
Copyright © DIAS 2013
