Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Εργαστήριο Ηλεκτρονικής

Μπορείτε να πλοηγηθείτε στις συλλογές/υπο-κοινότητες της κοινότητας ή μπορείτε να χρησιμοποιήσετε την υπηρεσία αναζήτησης

Συλλογές

Τελευταίες Υποβολές

 16-30 από 52 αποτελέσματα
16 Φραγκούλης Λογοθέτης, "Aνάπτυξη μεθόδων μηχανικής μάθησης για την επέκταση της φασματικής διάστασης: εφαρμογές σε στιγμιότυπη φασματική εικόνα ", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20202020-02-04
17 Απόστολος Αποστολάκης, "Σχεδίαση τελεστικών ενισχυτών διαγωγιμότητας (ΟΤΑ) χαμηλής κατανάλωσης σε δυο γενιές τεχνολογίας Bulk CMOS ", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20192019-12-23
18 Γεώργιος Φουστέρης, "Χαρακτηρισμός και Μοντελοποίηση Τρανζίστορ Τύπου HV-LDMOSFET", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20192019-12-20
19 Σταμάτης Στοϊκοτίδης, "Εργαλείο στατιστικής ανάλυσης δεδομένων θορύβου σε διατάξεις CMOS", Διπλωματική Εργασία, Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2019.2019-12-18
20 Χρίστος Διαμαντής, "Μελέτη τρανζίστορ επίδρασης πεδίου MOS τύπου-Ν με κυκλική πύλη – ηλεκτρικός χαρακτηρισμός και μεταβλητότητα", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20192019-12-16
21 Βησσάριος Δράκος, "Μελέτη τρανζίστορ επίδρασης πεδίου MOS τύπου-P με κυκλική πύλη – ηλεκτρικός χαρακτηρισμός και μεταβλητότητα", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20192019-12-16
22 Νικόλαος Τιριακίδης, "Ψηφιακή καθοδήγηση εργαλειομηχανών μέσω συστήματος CAD/CAM - σχεδιομελέτη και παραγωγή ακραξονίων ", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20192019-11-07
23 Σεβαστιανός Παπαδογιάννης, "Βιο-οπτική μοντελοποίηση της επιθηλιακής νεοπλασίας", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20192019-10-10
24 Χαράλαμπος Μπόρας, "Μικροσκόπιο αποσυνέλιξης βασισμένο στη συνάρτηση μεταφοράς διαμόρφωσης", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 20192019-10-04
25 C. Balas, G. Epitropou, A. Tsapras and N. Hadjinicolaou, "Hyperspectral imaging and spectral classification for pigment identification and mapping in paintings by El Greco and his workshop," Multimed. Tools Appl., vol. 77, no. 8, pp. 9737-9751, Apr. 2018. doi: 10.1007/s11042-017-5564-22019-09-19
26 A. Nikolaou, M. Bucher, N. Makris, A. Papadopoulou, L. Chevas, G. Borghello, H.D. Koch, K. Kloukinas, T.S. Poikela and F. Faccio, "Extending a 65nm CMOS process design kit for high total ionizing dose effects," in 7th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies, 2018, pp. 1-4. doi: 10.1109/MOCAST.2018.83765612019-09-06
27 M. Bucher, A. Nikolaou, A. Papadopoulou, N. Makris, L. Chevas, G. Borghello, H.D. Koch and F. Faccio, "Total ionizing dose effects on analog performance of 65 nm bulk CMOS with enclosed-gate and standard layout," in IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2018, pp. 166-170. doi: 10.1109/ICMTS.2018.83837902019-09-06
28 N. Makris, F. Jazaeri, J.-M. Sallese, R.K. Sharma and M. Bucher, "Charge-based modeling of long-channel symmetric double-gate junction FETs-Part I: drain current and transconductances," IEEE Trans. Electron Devices, vol. 65, no. 7, pp. 2744-2750, Jul. 2018. doi: 10.1109/TED.2018.28381012019-09-03
29 F. Jazaeri, N. Makris, A. Saeidi. M. Bucher and J.-M. Sallese, "Charge-based model for junction FETs," IEEE Trans. Electron Devices, vol. 65, no. 7, pp. 2694-2698, July 2018. doi: 10.1109/TED.2018.28309722019-09-02
30 N. Makris, F. Jazaeri, J.-M. Sallese and M. Bucher, "Charge-based modeling of long-channel symmetric double-gate junction FETs-Part II: total charges and transcapacitances," IEEE Trans. Electron Devices, vol. 65, no. 7, pp. 2751-2756, July 2018. doi: 10.1109/TED.2018.28380902019-09-02
Pages: |1 | 2 |3 |4 |