Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Thick target X-ray yields from proton bombardment

Katsanos Anastasios, Aravantinos A., Kallithrakas-Kontos Nikolaos

Απλή Εγγραφή


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/5D69158C-E88E-4DE8-9D50-5BEA5599ED0B-
Αναγνωριστικόhttps://doi.org/10.1002/xrs.1300170104-
Αναγνωριστικόhttps://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/xrs.1300170104-
Γλώσσαen-
Μέγεθος4 pagesen
ΤίτλοςThick target X-ray yields from proton bombardmenten
ΔημιουργόςKatsanos Anastasiosen
ΔημιουργόςΚατσανος Αναστασιοςel
ΔημιουργόςAravantinos A.en
ΔημιουργόςKallithrakas-Kontos Nikolaosen
ΔημιουργόςΚαλλιθρακας-Κοντος Νικολαοςel
ΕκδότηςJohn Wiley and Sonsen
ΠεριγραφήΔημοσίευση σε επιστημονικό περιοδικό el
ΠερίληψηThe production yields for characteristic x-rays from the bombardment of thick targets by protons are calculated by integrating the x-ray production cross-section for each element for the whole range of the protons, taking into account the self-absorption of x-rays. A simple approximation which can be applied with a pocket calculator is also presented, using simplified relationships for the energy dependence of the proton stopping power and the x-ray production cross-sections. The approximation allows very fast calculations, has an accuracy of better than 5% for low-energy protons and is also very useful for the first steps in a computer program for PIXE analysis of thick targets, using the method of iterations. The calculated yields are compared with experimental results obtained on thick specimens of pure elements, compounds and standards.en
ΤύποςPeer-Reviewed Journal Publicationen
ΤύποςΔημοσίευση σε Περιοδικό με Κριτέςel
Άδεια Χρήσηςhttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Ημερομηνία2015-10-12-
Ημερομηνία Δημοσίευσης1988-
Θεματική ΚατηγορίαYieldsen
Θεματική ΚατηγορίαBombardmenten
Θεματική ΚατηγορίαProtonen
Θεματική ΚατηγορίαX-rayen
Βιβλιογραφική ΑναφοράA. A. Katsanos, A. Aravantinos and N. Kallithrakas-Kontos, "Thick target X-ray yields from proton bombardment," X‐Ray Spectrom., vol. 17, no. 1, pp. 13–16, Feb. 1988. doi: 10.1002/xrs.1300170104en

Υπηρεσίες

Στατιστικά