Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Analysis of hydrogen depth profiles in a Ta-Ti sandwich film by the 15N reaction method

Katsanos Anastasios, M. Pilakouta, Neskakis, Apostolos, H. Wenzl, K. H. Klatt

Πλήρης Εγγραφή


URI: http://purl.tuc.gr/dl/dias/F491B0D0-6DF7-4BD8-8BF3-D70FA9F0C812
Έτος 1987
Τύπος Δημοσίευση σε Περιοδικό με Κριτές
Άδεια Χρήσης
Λεπτομέρειες
Βιβλιογραφική Αναφορά M. Pilakouta, A. Neskakis, K. Papastaikoudis, A. A. Katsanos, H. Wenzl, and K. H. Klatt, "Analysis of hydrogen depth profiles in a Ta-Ti sandwich film by the 15N reaction method" J. Less Comm. Metals, vol. 130, pp. 525-528, Mar. 1987. doi:10.1016/0022-5088(87)90151-2 https://doi.org/10.1016/0022-5088(87)90151-2
Εμφανίζεται στις Συλλογές

Περίληψη

The resonance at Full-size image (<1 K) in the reaction 1H(15N,αγ)12C has been employed as a powerful tool for the quantitative determination of hydrogen depth profiles in a thin film sandwich of tantalum and titanium on on a solid substrate. The hydrogen profiles have been investigated in vacuum in the temperature range between 25 °C and 400 °C. It is found that at 25 °C the hydrogen to metal ratios in the sandwich components tantalum and titanium are approximately 0.5 and 2 respectively.

Υπηρεσίες

Στατιστικά