Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN
|
EL
| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/F491B0D0-6DF7-4BD8-8BF3-D70FA9F0C812 | - |
| Αναγνωριστικό | http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0022508887901512 | - |
| Αναγνωριστικό | https://doi.org/10.1016/0022-5088(87)90151-2 | - |
| Γλώσσα | en | - |
| Μέγεθος | 4 pages | en |
| Τίτλος | Analysis of hydrogen depth profiles in a Ta-Ti sandwich film by the 15N reaction method | en |
| Δημιουργός | Katsanos Anastasios | en |
| Δημιουργός | Κατσανος Αναστασιος | el |
| Δημιουργός | M. Pilakouta | en |
| Δημιουργός | Neskakis, Apostolos | en |
| Δημιουργός | H. Wenzl | en |
| Δημιουργός | K. H. Klatt | en |
| Εκδότης | Elsevier | en |
| Περίληψη | The resonance at Full-size image (<1 K) in the reaction 1H(15N,αγ)12C has been employed as a powerful tool for the quantitative determination of hydrogen depth profiles in a thin film sandwich of tantalum and titanium on on a solid substrate. The hydrogen profiles have been investigated in vacuum in the temperature range between 25 °C and 400 °C. It is found that at 25 °C the hydrogen to metal ratios in the sandwich components tantalum and titanium are approximately 0.5 and 2 respectively. | en |
| Τύπος | Peer-Reviewed Journal Publication | en |
| Τύπος | Δημοσίευση σε Περιοδικό με Κριτές | el |
| Άδεια Χρήσης | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Ημερομηνία | 2015-12-02 | - |
| Ημερομηνία Δημοσίευσης | 1987 | - |
| Βιβλιογραφική Αναφορά | M. Pilakouta, A. Neskakis, K. Papastaikoudis, A. A. Katsanos, H. Wenzl, and K. H. Klatt, "Analysis of hydrogen depth profiles in a Ta-Ti sandwich film by the 15N reaction method" J. Less Comm. Metals, vol. 130, pp. 525-528, Mar. 1987. doi:10.1016/0022-5088(87)90151-2 | en |
Copyright © DIAS 2013
