Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

X-ray powder crystallography with vertex instrumentation

Chatzisotiriou V., Christofis I. , Dimitriou Nikos K., Dre Ch., Haralabidis, Nick, Karvelas S., Karydas, A.G, Loukas D. , Misiakos, Konstantinos, Pavlidis A., Perdikatsis Vasilis, Psycharis Vassilis , Spirou S. , Terzis Aris, Turchetta, Renato, Tsoi Elisabeth

Απλή Εγγραφή


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/5DB97484-DDF0-4D8B-9CEA-CD4D529420EE-
Αναγνωριστικόhttp://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168900298007311-
Αναγνωριστικόhttps://doi.org/10.1016/S0168-9002(98)00731-1-
Γλώσσαen-
Μέγεθος13 pagesen
ΤίτλοςX-ray powder crystallography with vertex instrumentationen
ΔημιουργόςChatzisotiriou V.en
ΔημιουργόςChristofis I. en
ΔημιουργόςDimitriou Nikos K.en
ΔημιουργόςDre Ch.en
ΔημιουργόςHaralabidis, Nicken
ΔημιουργόςKarvelas S.en
ΔημιουργόςKarydas, A.Gen
ΔημιουργόςLoukas D. en
ΔημιουργόςMisiakos, Konstantinosen
ΔημιουργόςPavlidis A.en
ΔημιουργόςPerdikatsis Vasilisen
ΔημιουργόςΠερδικατσης Βασιληςel
ΔημιουργόςPsycharis Vassilis en
ΔημιουργόςSpirou S. en
ΔημιουργόςTerzis Arisen
ΔημιουργόςTurchetta, Renatoen
ΔημιουργόςTsoi Elisabethen
ΕκδότηςElsevieren
ΠερίληψηAn X-ray Diffractometer for Powder Crystallography is described along with experimental results and future plans. This is an intermediate instrument toward a long linear array system. Three channels of a silicon microstrip detector, are the detecting elements in the present instrument. Each detector channel is followed by a VLSI readout chain, which consists of a charge preamplifier with pulse shaping circuitry, a discriminator, and a 16-bit counter. Control and data acquisition is performed with a custom made PC readout card. A motorized goniometer scans the angle range of interest. Calibration of the system is done with reference samples and data which are captured with a one-channel conventional NaI detector.en
ΤύποςPeer-Reviewed Journal Publicationen
ΤύποςΔημοσίευση σε Περιοδικό με Κριτέςel
Άδεια Χρήσηςhttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Ημερομηνία2015-12-03-
Ημερομηνία Δημοσίευσης1998-
Θεματική ΚατηγορίαX-ray Diffractometeren
Θεματική ΚατηγορίαPowder crystallographyen
Βιβλιογραφική ΑναφοράV. Chatzisotiriou, I. Christofis, N. Dimitriou, C. Dre, N. Haralabidis, S. Karvelas, A. G. Karydas, D. Loukas, K. Misiakos, A. Pavlidis, V. Perdikatsis, V. Psycharis, S. Spirou, A. Terzis, R. Turchetta and E. Tsoi, "X-ray powder crystallography with vertex instrumentation", Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. Sect. A, vol. 418, no. 1, pp. 173-185, Nov. 1998. doi: 10.1016/S0168-9002(98)00731-1en

Υπηρεσίες

Στατιστικά