Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs

Nikolaou Aristeidis

Πλήρης Εγγραφή


URI: http://purl.tuc.gr/dl/dias/C430AFDB-1CC3-4699-A38D-14E806CF17E7
Έτος 2016
Τύπος Διπλωματική Εργασία
Άδεια Χρήσης
Λεπτομέρειες
Βιβλιογραφική Αναφορά Αριστείδης Νικολάου, "Στατιστική μελέτη θορύβου χαμηλής συχνότητας σε Enclosed Gate MOSFETs ", Διπλωματική Εργασία, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2016 https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.66251
Εμφανίζεται στις Συλλογές

Περίληψη

Μη διαθέσιμο για την επιλεγμένη γλώσσα

Διαθέσιμα αρχεία

Υπηρεσίες

Στατιστικά