Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Zografos_Apostolos_Dip_2017.pdf

Αποτελεί Αρχείο του Τεκμηρίου: Analysis of radiation effects in CMOS technology at high Total Ionizing Dose (TID)
URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/FE8D136B-466F-4639-B3BF-1AB85062ED44-
Τίτλος ΑρχείουZografos_Apostolos_Dip_2017.pdf-
Περιορισμοί Πρόσβασηςembargo-
UNTIL 2018-06-18
Ημερομηνία Διάθεσης2017-12-19-
Τύπος Περιεχομένουapplication/pdf-
Μέγεθος Αρχείου9 MBen

Εξαγωγή

Λήψη

Προεπισκόπηση

Κοινοποίηση
 

Copyright © DIAS 2013