Ιδρυματικό Αποθετήριο
Πολυτεχνείο Κρήτης
EN  |  EL

Αναζήτηση

Πλοήγηση

Ο Χώρος μου

Variability of low frequency noise and mismatch in CORNER DOPED and standard CMOS technology

Coustans Mathieu, Jazaeri, Farzan 1984-, Enz, Christian C, Krummenacher Francois, Kayal, Maher, Meyer René, Acović, Alexandre, Habaš Predrag, Lolivier, Jérôme 1978-, Bucher Matthias

Απλή Εγγραφή


URIhttp://purl.tuc.gr/dl/dias/C37E6B65-EA3C-49F8-81A1-2AFCA6C497DE-
Αναγνωριστικόhttps://ieeexplore.ieee.org/document/7985953/-
Αναγνωριστικόhttps://doi.org/10.1109/ICNF.2017.7985953-
Γλώσσαen-
ΤίτλοςVariability of low frequency noise and mismatch in CORNER DOPED and standard CMOS technologyen
ΔημιουργόςCoustans Mathieuen
ΔημιουργόςJazaeri, Farzan 1984-en
ΔημιουργόςEnz, Christian Cen
ΔημιουργόςKrummenacher Francoisen
ΔημιουργόςKayal, Maheren
ΔημιουργόςMeyer Renéen
ΔημιουργόςAcović, Alexandreen
ΔημιουργόςHabaš Predragen
ΔημιουργόςLolivier, Jérôme 1978-en
ΔημιουργόςBucher Matthiasen
ΔημιουργόςBucher Matthiasel
ΕκδότηςInstitute of Electrical and Electronics Engineersen
ΠερίληψηVariability of Low Frequency Noise (LFN) and Random Telegraph Noise (RTN) is a main concern in analog CMOS integrated circuits. For instance circuits such as current reference, SRAM, ring oscillators are ultimately limited by noise level and mismatch. In this work, CORNER DOPED devices have been fabricated, measured, and finally compared with standard CMOS technology with particular emphasis on weak inversion region. The proposed device shows improved gate voltage mismatch in weak inversion with respect to standard CMOS for a given geometry. Relying on the carrier number fluctuation theory, the Low Frequency Noise and its variability have been represented by a compact model.en
ΤύποςΠλήρης Δημοσίευση σε Συνέδριοel
ΤύποςConference Full Paperen
Άδεια Χρήσηςhttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/en
Ημερομηνία2018-04-25-
Ημερομηνία Δημοσίευσης2017-
Θεματική ΚατηγορίαLow voltage deviceen
Θεματική ΚατηγορίαLow-power deviceen
Θεματική ΚατηγορίαMatchingen
Θεματική ΚατηγορίαNoiseen
Βιβλιογραφική ΑναφοράM. Coustans, F. Jazaeri, C. Enz, F. Krummenacher, M. Kayal, R. Meyer, A. Acovic, P. Habaš, J. Lolivier and M. Bucher, "Variability of low frequency noise and mismatch in CORNER DOPED and standard CMOS technology," in International Conference on Noise and Fluctuations, 2017. doi : 10.1109/ICNF.2017.7985953 en

Υπηρεσίες

Στατιστικά