Institutional Repository
Technical University of Crete
Technical University of Crete
EN
|
EL
| URI | http://purl.tuc.gr/dl/dias/6478F07C-E230-450A-A4CB-CC70418BFB21 | - |
| Identifier | https://doi.org/10.26233/heallink.tuc.77171 | - |
| Language | en | - |
| Extent | 124 pages | en |
| Title | Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology | en |
| Title | Χαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS | el |
| Creator | Nikolaou Aristeidis | en |
| Creator | Νικολαου Αριστειδης | el |
| Contributor [Thesis Supervisor] | Bucher Matthias | en |
| Contributor [Thesis Supervisor] | Bucher Matthias | el |
| Contributor [Committee Member] | Balas Costas | en |
| Contributor [Committee Member] | Μπαλας Κωστας | el |
| Contributor [Committee Member] | Kalaitzakis Konstantinos | en |
| Contributor [Committee Member] | Καλαϊτζακης Κωνσταντινος | el |
| Publisher | Πολυτεχνείο Κρήτης | el |
| Publisher | Technical University of Crete | en |
| Academic Unit | Technical University of Crete::School of Electrical and Computer Engineering | en |
| Academic Unit | Πολυτεχνείο Κρήτης::Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών | el |
| Type of Item | Μεταπτυχιακή Διατριβή | el |
| Type of Item | Master Thesis | en |
| License | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | en |
| Date of Item | 2018-06-29 | - |
| Date of Publication | 2018 | - |
| Subject | High TID effects on CMOS | el |
| Bibliographic Citation | Aristeidis Nikolaou, "Characterization and modeling of high total ionizing dose effects and low frequency noise in standard CMOS technology", Master Thesis, School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece, 2018 | en |
| Bibliographic Citation | Αριστείδης Νικολάου, "Χαρακτηρισμός και μοντελοποίηση φαινομένων ακτινοβολίας και θορύβου χαμηλής συχνότητας σε συμβατική τεχνολογία CMOS", Μεταπτυχιακή Διατριβή, Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών, Πολυτεχνείο Κρήτης, Χανιά, Ελλάς, 2018 | el |
Copyright © DIAS 2013
